WaveMaster®PRO 2 / PRO 2 Wafer
商品類別：光學元件(零件)檢測
商品介紹：全自動波前量測系統，配有Shack-Hartmann感測器，用於透鏡和光學晶片的串聯測試。
WaveMaster®PRO 2 / PRO 2 Wafer
鏡頭和晶圓測試
大批量生產小型塑膠或玻璃鏡片的光學品質與效率要求不斷提高。使用波前量測技術在這樣的批量生產中可以產生很大的優化潛力。
WaveMaster® PRO 2 & PRO 2 Wafer為批量的光學與光學晶片檢測制定了新的標準。典型的量測時間為2秒。
光學元件與托盤的快速更換可以滿足批量生產的先決要件。就測量技術而言，WaveMaster®PRO 2和PRO 2 Wafer使用Shack-Hartmann感測器以確定波前的各種衍生參數。這個非常好的資料庫可以用在其他生產中的優化。
主要特點
- 量測時間：每個鏡片小於兩秒
- 大量樣品的全自動量測（晶圓或載盤）
- 使用者可以選擇通過或失敗的標準
- 絕對或相對的波前測量
- 完整的波前分析（PV，RMS，Zernike，PSF，MTF，Strehl）
- 有兩種類型的測試
- 用於測量球面與非球面透鏡的設置（單透鏡或晶圓）
- 用於平面量測（單面或晶圓）
- 輸出所有單鏡片的量測結果
- 整合量測系統，用於測量晶圓方向，總體晶圓凹陷和傾斜度
產品應用
品質控制
- 球面或非球面鏡片
- 光學窗
- 濾光片
- 光學晶圓
Shack-Hartmann傳感器在批量生產中的應用
- 使用Zernike係數與設計數據進行比較
- 直接比較主樣品
- 使用波前分析確定MTF，材料缺陷和生產誤差
- 楔角（可選）
- EFL（可選）
WaveSensor 或 WaveMaster 軟體®
該軟體結構全面，使用者友好，包括使用WaveSensor或WaveMaster測量和分析球面和非球面樣品所需的所有功能。由於其靈活的可配置性，所有重要的測量結果都會顯示出來。
該軟體與 Shack-Hartmann 感測器通信，並即時分析測量的波前。此外，WaveMaster還可以控制測量系統，以便對準樣品。