WaveMaster® Plan 

平面元素的波前量測

 The WaveMaster® Plan 用於平面光學元件的品質控制，如平板或是楔子。

該系統使用整合過的Shack-Hartmann偵測器以穿透式來測量樣品的波前。

主要特點

• 平面光學元件的綜合分析
• 高測量速度提供高樣品輸出
• 樣品支架可在亞微米等級進行調整
• 測量一系列樣品時，僅需做最少量的校準
• 高精度的Shack-Hartmann偵測器
• 與來自主鏡頭或或設計檔的波前數據可進行即時比較
• 平行光源
• 防震動設計
• 全方位的軟體功能用以量測以及分析
• 簡單快速地平面元件量測。如果需要調整僅需大致將樣品置於偵測器中心

產品應用

WaveMaster®Plan在穿透模式中測量平面元素的波前。

Hartman Sensors傳感器進行波前測量

WaveSensor®軟體結構清晰且易於使用，包含所有測量和分析平面，球面和非球面樣品的功能。

該軟體與Shack-Hartmann傳感器進行通信，並即時分析測得的波前。

優點

• 表單驅動的操作指南
• 簡單直觀地測量和分析波前和表面
• 全方位的軟體功能：數據收集，數據計算，校準，數據顯示，即時分析
• 載入ZEMAX(可執行標準序列光學元件光線追蹤，非連續光學元件雜散光追蹤，以及物理光學光束傳播)和Code V(綜合性涵蓋了廣泛的光學結構與計算，提供設計、公差、價格、製造與組合的全方位發展平台，可建構多樣性的光學系統，透過圖表方式呈現出系統性能，並利用限制條件與誤差函數進行優化)的理論數據，並在測量過程中進行即時比對

軟體詳述

基本功能

• 即時測量和分析波前
• 顯示：

1. 2D-或3D-的波前、邊緣和相位
2. PV和RMS
3. 強度
4. 局部斜率
5. 相機圖像

• 絕對和相對測量模式
• 與主鏡頭或設計數據進行即時比較
• 波前和相機圖像的平均
• 測量和分析區域的可調式遮罩
• 可儲存的配置檔
• 憑證
• 多種分析可用模組

MTF / PSF分析模組

• 即時計算並顯示3D MTF和PSF數據
• 帶有MTF測量結果的表格
• 測量結果的導出功能
• 斯特列爾比(Strehl Ratio)的計算

ZERNIKE分析模組

• Zernike多項式即時擬合和分析波前數據
• 以數字和圖形顯示的擬合結果
• 從ZEMAX和CODE V導入波前理論數據進行即時比較
• 以ASCII和ZEMAX格式導出波前數據和分析結果
• 可顯示Zernike係數趨勢

Upgrades & Accessories for  WaveMaster Compact

波前儀的特點是靈活的設計，可以使儀器適應特定的應用需求。WaveMaster®系統的功能在以下附件和升級的幫助下得以擴充。

波前傳感應器

當需要更高的動態範圍或精度時，WaveMaster®儀器的波前傳感器可以互換。作為升級，所有可用的WaveSensor®設備都可以實施到WaveMaster®儀器中。TRIOPTICS提供多種波前傳感器，可根據要求提供。

照明

可使用各種具有不同波長和數值孔徑的光源。藉由運動支架，可以更簡易的更換數值孔徑。

準直儀

為了最大程度地利用傳感器的動態範圍，可使用一套準直儀來增加橫向分辨率。

根據樣品直徑和波前傳感器的尺寸，必須選擇最佳的放大倍率。運動支架可以方便地更換準直儀。